Rietveld方法精修及定量分析研究

孙峰

中国海洋大学

摘要：

利用X射线多晶衍射进行全谱拟合的Rietveld方法是材料科学中一种有效的研究方法。本文利用基于该原理设计的计算机程序TOPAS，结合自己的工作探索Rietveld方法在无机材料结构研究领域的一些应用，包括晶体结构精修以及定量相分析。
1.晶体结构精修。
利用TOPAS软件精修了化合物BaTiO3以及PbSO4的晶体结构参数。程序中利用Pseudo-Voigt模型进行峰型拟合，March-Dollase模型进行择优取向校正。其中BaTiO3为四方晶系，空间群为P4mm(99)，精修后晶胞参数为：a=3.9950473A，c=4.0253999A，最终修正因子达到Rp=7.98％，Rwp=12.08％，Rexp=10.45％。PbSO4为斜方晶系，空间群为Pbnm(62)，精修后晶胞参数为：a=6.957953A，b=8.476731A，c=5.398124A，最终修正因子达到Rp=7.62％，Rwp=10.33％，Rexp=7.42％。均符合最初选定模型的结构。
2.定量相分析。
利用TOPAS程序，对不同质量比的Al2O3和ZnO粉末的混合物样品进行了相含量的定量分析，分析结果与原始配比显示出了很好的一致性。说明Rietveld全谱拟合方法可以有效的用于多相粉末的定量相分析。

关键词：定量分析;X射线;多晶衍射;晶体结构

授予单位：中国海洋大学

授予学位：硕士

学科专业：材料物理与化学

导师姓名：尹衍升

学位年度：2009

语种：中文

分类号：O655

页数：45

在线出版日期：2009-09-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）